6. Observing Dislocations and Other Defects

6.1 Dekoration und Mikroskopie

6.1.1 Ätzverfahren

6.1.2 IR - Mikroskopie mit / ohne Dekoration

6.2 Röntgentopographie

6.3 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

6.3.1 Grundlagen

6.3.2 Examples and Case Studies for Dislocations

6.3.3 Stacking Faults and Other Defects

6.3.4 High-Resolution TEM (HRTEM) - direkte Abbildung des Kristallgitters